(067) 443-93-97, (050) 443-93-99

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

  • 801 грн
  • Автор: Под ред. Каминской Т.П.
  • Видавництво: БИНОМ
  • Рік видання: 2013
  • Сторінок: 582
  • Склад: Товар закінчився
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электрон- ной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
  • ISBN: 978-5-9963-1110-1
  • Мова видання: РУС
  • Тип обкладинки: Тверда
  • Розмір: 170 х 240 мм
  • Вага: 500г

Написати відгук

Примітка: HTML розмітка не підтримується! Використовуйте звичайний текст.
    Погано           Добре
Захист від роботів